高分辨粒度儀的校準(zhǔn)方法

更新時間：2023-10-26

點擊次數(shù)：1528

高分辨粒度儀主要用于測量納米材料的粒徑和粒度分布，其應(yīng)用廣泛。

校準(zhǔn)方法：

1.確保儀器光學(xué)系統(tǒng)工作正常。光學(xué)窗口是激光粒度分析儀器重要的組成部分，因此測試前應(yīng)保證光學(xué)窗口內(nèi)外表面光潔，無劃痕，清潔，無缺損。光學(xué)基準(zhǔn)譜平滑依次過渡，無明顯突起或凹陷。

2.外界條件對儀器的影響。外界條件主要包括環(huán)境的濕度，溫度和電源電壓的波動對儀器測試結(jié)果的影響。

3.儀器測量重復(fù)性。將儀器預(yù)熱到規(guī)定時間，采用一種國家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)進行多次測試，一般測試樣品6～10次，記錄每次D50，計算測量平均值，標(biāo)準(zhǔn)偏差和相對標(biāo)準(zhǔn)偏差。

4.儀器測量相對誤差。與儀器重復(fù)性測量不同的是，儀器相對誤差的測試要采用至少三種樣品以上的國家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)進行測試，每種樣品獨立測量3次并分別求其平均值，獲得多個粒度測量的平均值，分別計算儀器測量平均值與粒度表標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)值間的相對誤差。

5.儀器分辨力。儀器分辨力的判斷是采用測試兩種樣品混合測試的方法，兩種粒度標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的移取量要根據(jù)其質(zhì)量濃度而定，確保混合后的樣品中標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的質(zhì)量濃度比為1:2，將樣品混合均勻后加入儀器進行測量。應(yīng)能夠從儀器測量粒度分布曲線圖中能夠觀察出2個獨立不相連的峰形，則認(rèn)為雙峰已分。